半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、安徽钜芯半导体科技有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司 、绵阳迈可微检测技术有限公司 、山东省中智科标准化研究院有限公司 、佛山市川东磁电股份有限公司 。 主要起草人 裴选 、彭浩 、张魁 、曹孙根 、席善斌 、魏兵 、赵鹏 、徐昕 、米村艳 、李明钢 、颜天宝 。 GB/T 4937.31-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-31:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）。