半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、河北北芯半导体科技有限公司 、池州信安电子科技有限公司 、河北中电科航检测技术服务有限公司 、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司 、广东科信电子有限公司 、佛山市川东磁电股份有限公司 。 主要起草人 冉红雷 、张魁 、张忠祥 、黄杰 、彭浩 、魏兵 、尹丽晶 、徐昕 、柯汉忠 、颜天宝 、刘银燕 。 GB/T 4937.23-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-23:2011。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命。