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  标准概要

硅单晶抛光片

Monocrystalline silicon polished wafers
国家标准《硅单晶抛光片》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京有色金属研究总院 。 GB/T 12964-1996 (全部代替) GB/T 12964-2003 废止 GB/T 12964-2018 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 12964-2003
发布日期 2003-06-16
实施日期 2004-01-01
废止日期 2019-06-01
全部代替标准 GB/T 12964-1996
标准号 GB/T 12964-2003
发布日期 2003-06-16
实施日期 2004-01-01
废止日期 2019-06-01
全部代替标准 GB/T 12964-1996
  起草单位
  北京有色金属研究总院
  起草人
  20240494-T-469  碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法
  SJ/T 11502-2015  碳化硅单晶抛光片规范
  GB/T 12964-2018  硅单晶抛光片
  GB/T 30656-2023  碳化硅单晶抛光片
  GB/T 29506-2013  300mm 硅单晶抛光片
  SJ/T 11504-2015  碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
  SJ/T 11503-2015  碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
  GB/T 31351-2014  碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法
  GB/T 41325-2022  集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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