标准概要

半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位核工业标准化研究所。 GB/T 8992-1988 （全部代替） GB/T 11685-1989 （全部代替） GB/T 11685-2003 现行本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 60759:1983。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 11685-2003

发布日期 2003-07-07

实施日期 2004-01-01

全部代替标准 GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988

标准号 GB/T 11685-2003

发布日期 2003-07-07

实施日期 2004-01-01

全部代替标准 GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988

起草单位

核工业标准化研究所

起草人

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申明

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