标准概要

半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

国家标准《半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位信息产业部第四研究所。 GB/T 19403.1-2003 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-11-1:1992。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 19403.1-2003

发布日期 2003-11-24

实施日期 2004-08-01

标准号 GB/T 19403.1-2003

发布日期 2003-11-24

实施日期 2004-08-01

起草单位

信息产业部第四研究所

起草人

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申明

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