标准概要

半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

国家标准《半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位华禹光谷股份有限公司半导体厂。 GB/T 15651.3-2003 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-3:1997。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 15651.3-2003

发布日期 2003-11-24

实施日期 2004-08-01

标准号 GB/T 15651.3-2003

发布日期 2003-11-24

实施日期 2004-08-01

起草单位

华禹光谷股份有限公司半导体厂

起草人

GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件

20201543-T-339 半导体器件分立器件第15部分：绝缘功率半导体器件

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性

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GB/T 15651.4-2017 半导体器件分立器件第5-4部分:光电子器件半导体激光器

20242947-T-339 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

20233683-T-339 半导体器件第5-4部分：光电子器件半导体激光器

20233151-T-339 半导体分立器件第1部分：分规范

GB/T 4023-2015 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

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推荐标准

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申明

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