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  标准概要

硅抛光片表面颗粒测试方法

Test method of particles on silicon wafer surfaces
国家标准《硅抛光片表面颗粒测试方法》 由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国有色金属工业协会。 主要起草单位 北京有色金属研究总院 。 GB/T 19921-2005 废止 GB/T 19921-2018 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 19921-2005
发布日期 2005-09-19
实施日期 2006-04-01
废止日期 2019-07-01
标准号 GB/T 19921-2005
发布日期 2005-09-19
实施日期 2006-04-01
废止日期 2019-07-01
  起草单位
  北京有色金属研究总院
  起草人
  GB/T 19921-2018  硅抛光片表面颗粒测试方法
  YS/T 25-1992  硅抛光片表面清洗方法
  SJ/T 11504-2015  碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
  SJ/T 11503-2015  碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法
  GB/T 6624-2009  硅抛光片表面质量目测检验方法
  20240136-T-469  金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
  20240138-T-469  氮化铝单晶抛光片
  20240494-T-469  碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法
  GB/T 4058-2009  硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
  20240826-T-469  颗粒 生物气溶胶过滤效率测试方法
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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