标准概要

半导体探测器X射线能谱仪通则

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位中国科学院地质与地球物理研究所。主要起草人曾荣树、徐文东、马玉光、范逛等。 GB/T 20726-2006 废止 GB/T 20726-2015 （全部代替）本标准等同采用ISO国际标准：ISO 15632:2002。采标中文名称:半导体探测器X射线能谱仪通则。

基础信息

标准号 GB/T 20726-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2016-09-01

标准号 GB/T 20726-2006

发布日期 2006-12-25

实施日期 2007-08-01

废止日期 2016-09-01

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所

起草人

曾荣树

徐文东

马玉光

范逛

推荐标准

GB/T 38575-2021 眼镜架螺纹

GB/T 12689.7-1990 锌及锌合金化学分析方法火焰原子吸收光谱法测定镁量

GB/T 20323-2020 铣刀代号整体或镶齿结构或带可转位切削刃的带柄和带孔铣刀

GB/T 7048-2003 色素炭黑黑度的测定

GB/T 8943.2-1988 纸浆、纸和纸板铁含量的测定法

GB/T 23423-2024 飞机主舱集装货物装载机

GB/T 29168.2-2024 石油天然气工业管道输送系统用弯管、管件和法兰第2部分：管件

GB/T 19557.17-2022 植物品种特异性（可区别性）、一致性和稳定性测试指南辣椒

GB 20294-2006 隔爆型起重冶金和屏蔽电机安全要求

GB/T 3408-1994 差动电阻式应变计

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签