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薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京科技大学 。 主要起草人 柳得橹 。 GB/T 20724-2006 废止 GB/T 20724-2021 (全部代替)
  基础信息
标准号 GB/T 20724-2006
发布日期 2006-12-25
实施日期 2007-08-01
废止日期 2022-07-01
标准号 GB/T 20724-2006
发布日期 2006-12-25
实施日期 2007-08-01
废止日期 2022-07-01
  起草单位
  北京科技大学
  起草人
  柳得橹
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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