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标准概要
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京科技大学 。 主要起草人 柳得橹 。 GB/T 20724-2006 废止 GB/T 20724-2021 (全部代替)
基础信息
标准号
GB/T 20724-2006
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
废止日期
2022-07-01
标准号
GB/T 20724-2006
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
废止日期
2022-07-01
起草单位
北京科技大学
起草人
柳得橹
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