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  标准概要

硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法

Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor
国家标准《硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 TCL中环新能源科技股份有限公司 、弘元新材料(包头)有限公司 、隆基绿能科技股份有限公司 、宜昌南玻硅材料有限公司 、浙江海纳半导体股份有限公司 、内蒙古中环晶体材料有限公司 、四川永祥光伏科技有限公司 。 主要起草人 张雪囡 、王林 、王建平 、李向宇 、杨阳 、邓浩 、刘文明 、赵子龙 、郭红强 、张石晶 、潘金平 、李寿琴 、赵军 。 GB/T 42907-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/T 42907-2023
发布日期 2023-08-06
实施日期 2024-03-01
标准号 GB/T 42907-2023
发布日期 2023-08-06
实施日期 2024-03-01
  起草单位
  TCL中环新能源科技股份有限公司
  隆基绿能科技股份有限公司
  浙江海纳半导体股份有限公司
  四川永祥光伏科技有限公司
  弘元新材料(包头)有限公司
  宜昌南玻硅材料有限公司
  内蒙古中环晶体材料有限公司
  起草人
  张雪囡
  王林
  杨阳
  邓浩
  郭红强
  张石晶
  赵军
  王建平
  李向宇
  刘文明
  赵子龙
  潘金平
  李寿琴
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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