标准概要

半导体集成电路霍尔电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

国家标准《半导体集成电路霍尔电路测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。主要起草人尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广。 GB/T 42838-2023 现行

基础信息

标准号 GB/T 42838-2023

发布日期 2023-08-06

实施日期 2023-12-01

标准号 GB/T 42838-2023

发布日期 2023-08-06

实施日期 2023-12-01

起草单位

中国电子技术标准化研究院

合肥美菱物联科技有限公司

东莞市国梦电机有限公司

南京中旭电子科技有限公司

北京微电子技术研究所

起草人

尹航

刘芳

张帆

刘德广

何万海

唐食明

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申明

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