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半导体集成电路 霍尔电路测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
国家标准《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、南京中旭电子科技有限公司 、合肥美菱物联科技有限公司 、北京微电子技术研究所 、东莞市国梦电机有限公司 。 主要起草人 尹航 、刘芳 、何万海 、唐食明 、张帆 、刘德广 。 GB/T 42838-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/T 42838-2023
发布日期 2023-08-06
实施日期 2023-12-01
标准号 GB/T 42838-2023
发布日期 2023-08-06
实施日期 2023-12-01
  起草单位
  中国电子技术标准化研究院
  合肥美菱物联科技有限公司
  东莞市国梦电机有限公司
  南京中旭电子科技有限公司
  北京微电子技术研究所
  起草人
  尹航
  刘芳
  张帆
  刘德广
  何万海
  唐食明
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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