标准概要

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）、全国有色金属标准化技术委员会联合归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京有色金属研究总院。主要起草人王彤涵。 GB/T 4326-1984 （全部代替） GB/T 4326-2006 现行 20233951-T-610 正在征求意见

基础信息

标准号 GB/T 4326-2006

发布日期 2006-07-18

实施日期 2006-11-01

全部代替标准 GB/T 4326-1984

标准号 GB/T 4326-2006

发布日期 2006-07-18

实施日期 2006-11-01

全部代替标准 GB/T 4326-1984

起草单位

北京有色金属研究总院

起草人

王彤涵

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