标准概要

半导体器件机械和气候试验方法第1部分: 总则

Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第1部分: 总则》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。主要起草人陈海蓉、崔波。 GB/T 4937-1995 （部分代替） GB/T 4937.1-2006 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-1:2002。采标中文名称:。

基础信息

标准号 GB/T 4937.1-2006

发布日期 2006-08-23

实施日期 2007-02-01

部分代替标准 GB/T 4937-1995,

标准号 GB/T 4937.1-2006

发布日期 2006-08-23

实施日期 2007-02-01

部分代替标准 GB/T 4937-1995,

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

陈海蓉

崔波

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申明

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