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标准概要
半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-1: Microwave diodes and transistors - Microwave field effect transistors - Blank detail specification
国家标准《半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究所 。 主要起草人 罗发明 、刘春勋 。 GB/T 21039.1-2007 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-4-1:2000。 采标中文名称:半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范。
基础信息
标准号
GB/T 21039.1-2007
发布日期
2007-06-29
实施日期
2007-11-01
标准号
GB/T 21039.1-2007
发布日期
2007-06-29
实施日期
2007-11-01
起草单位
中国电子技术标准化研究所
起草人
罗发明
刘春勋
推荐标准
GB/T 21034-2007 饲料添加剂 羟基蛋氨酸钙
GB/T 11361-2008 同步带传动 梯形齿带轮
GB/T 8752-1988 铝及铝合金阳极氧化 薄阳极氧化膜连续性的检验 硫酸铜试验
GB/T 3166-2004 热水锅炉参数系列
GB/T 40105-2021 跨境电子商务交易要求
GB/T 6554-2003 电气绝缘用树脂基反应复合物 第2部分:试验方法 电气用涂敷粉末方法
GB/T 8753-1988 铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜封闭后吸附能力的损失评定 酸处理后的染色斑点试验
GB/T 18046-2008 用于水泥和混凝土中的粒化高炉矿渣粉
GB/T 605-1988 化学试剂 色度测定通用方法
GB/T 15972.42-2008 光纤试验方法规范 第42部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 波长色散
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