集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、深圳市北测标准技术服务有限公司 、天津先进技术研究院 、北京智芯微电子科技有限公司 、浙江诺益科技有限公司 、扬芯科技（深圳）有限公司 、广州市诚臻电子科技有限公司 、北京无线电计量测试研究所 、厦门海诺达科学仪器有限公司 、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司 、中国家用电器研究院 、中国合格评定国家认可中心 、北京芯可鉴科技有限公司 、东南大学 、中国汽车工程研究院股份有限公司 、广东省科学院电子电器研究所 、青岛金汇源电子有限公司 、联想（北京）有限公司 、西安优来测科技有限公司 、中国电力科学研究院有限公司 、广州致远电子有限公司 。 主要起草人 付君 、崔强 、方文啸 、刘小军 、吴建飞 、乔彦彬 、郑益民 、叶畅 、杨红波 、李楠 、刘星汛 、梁吉明 、白云 、张艳艳 、朱赛 、靳冬 、刘佳 、陈燕宁 、邵鄂 、周香 、黄雪梅 、郑泓 、李德鹏 、吕飞燕 、刘易勇 、贺伟 、陈勇志 、陈梅双 。 GB/T 42968.8-2023 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-8:2012。 采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法。