纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法

国家标准《纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法》 由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。 主要起草单位 纳晶科技股份有限公司 、国家纳米科学中心 、深圳TCL新技术有限公司 、广东普加福光电科技有限公司 、海信视像科技股份有限公司 、北京北达聚邦科技有限公司 、武汉珈源同创科技有限公司 、南开大学 、杭州英诺维科技有限公司 、浙江大学 、中国计量大学 、广州特种承压设备检测研究院 、北京理工大学 、TCL华星光电技术有限公司 、南方科技大学 、致晶科技（北京）有限公司 、南京理工大学 。 主要起草人 康永印 、刘忍肖 、罗飞 、张佳琪 、葛广路 、季洪雷 、许怀书 、李阳 、刘卫东 、穆琳佳 、郭海清 、朱东亮 、庞代文 、赵飞 、李俊凯 、秦海燕 、刘祖刚 、尹宗杰 、钟海政 、黄卫东 、孙小卫 、柏泽龙 、曾海波 。 GB/T 42976-2023 现行