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宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》 由TC425(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会)归口,TC425SC2(全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京微电子技术研究所 、中国航天电子技术研究院 。 主要起草人 赵元富 、陈雷 、王亮 、岳素格 、郑宏超 、李哲 、林建京 、李永峰 、陈淼 、王汉宁 。 GB/T 43226-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/T 43226-2023
发布日期 2023-09-07
实施日期 2024-01-01
标准号 GB/T 43226-2023
发布日期 2023-09-07
实施日期 2024-01-01
  起草单位
  北京微电子技术研究所
  中国航天电子技术研究院
  起草人
  赵元富
  陈雷
  郑宏超
  李哲
  陈淼
  王汉宁
  王亮
  岳素格
  林建京
  李永峰
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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