半导体集成电路 驱动器测试方法

国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、中国电子科技集团公司第二十四研究所 、安徽大华半导体科技有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司 、中国电子科技集团公司第五十八研究所 、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 、成都振芯科技股份有限公司 。 主要起草人 刘芳 、周俊 、杨晓强 、纵雷 、刘凡 、霍玉柱 、林瑜攀 、陆坚 、梁希 、王会影 。 GB/T 42975-2023 现行