元器件位移损伤试验方法

国家标准《元器件位移损伤试验方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国空间技术研究院 、中国工程物理研究院核物理与化学研究所 、西北核技术研究院 、中国电子科技集团公司第四十四研究所 、中国科学院新疆理化技术研究所 、扬州大学 。 主要起草人 罗磊 、于庆奎 、唐民 、朱恒静 、张洪伟 、郑春 、陈伟 、丁李利 、汪朝敏 、李豫东 、文林 、薛玉雄 。 GB/T 42969-2023 现行