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  标准概要

石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
国家标准《石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具》 由TC182(全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子元件行业协会压电晶体分会 。 主要起草人 章怡 、姜连生 。 GB/T 22319.8-2008 现行 20202533-T-339 正在批准 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60444-8:2003。 采标中文名称:石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具。
  基础信息
  起草单位
  标准号
  GB/T 22319.8-2008
  发布日期
  2008-08-06
  实施日期
  2009-01-01
  标准类别
  方法
  中国标准分类号
  L21
  国际标准分类号
  31.140 31 电子学 31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件
  归口单位
  全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
  执行单位
  全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
  主管部门
  工业和信息化部(电子)
  起草人
  中国电子元件行业协会压电晶体分会
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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