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表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》 由TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 主要起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心 。 主要起草人 马农农 、何友琴 、何秀坤 。 GB/T 22572-2008 现行 本标准等同采用ISO国际标准:ISO 20341:2003。 采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法。
  基础信息
标准号 GB/T 22572-2008
发布日期 2008-12-11
实施日期 2009-10-01
标准号 GB/T 22572-2008
发布日期 2008-12-11
实施日期 2009-10-01
  起草单位
  信息产业部专用材料质量监督检验中心
  起草人
  马农农
  何友琴
  何秀坤
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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