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标准概要
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
国家标准《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京科技大学 。 主要起草人 权茂华 、柳得橹 。 GB/T 43087-2023 现行 本标准修改采用ISO国际标准:ISO 20263:2017。 采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法。
基础信息
标准号
GB/T 43087-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
标准号
GB/T 43087-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
起草单位
北京科技大学
起草人
权茂华
柳得橹
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