标准概要

微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

国家标准《微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京科技大学。主要起草人权茂华、柳得橹。 GB/T 43087-2023 现行本标准修改采用ISO国际标准：ISO 20263:2017。采标中文名称:微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法。

基础信息

标准号 GB/T 43087-2023

发布日期 2023-09-07

实施日期 2024-04-01

标准号 GB/T 43087-2023

发布日期 2023-09-07

实施日期 2024-04-01

起草单位

北京科技大学

起草人

权茂华

柳得橹

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申明

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