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标准概要
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。 主要起草人 江莉 、杨旭 。 GB/T 1553-1997 (全部代替) GB/T 1553-2009 废止 GB/T 1553-2023 (全部代替)
基础信息
标准号
GB/T 1553-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
全部代替标准
GB/T 1553-1997
标准号
GB/T 1553-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
全部代替标准
GB/T 1553-1997
起草单位
峨嵋半导体材料厂
起草人
江莉
杨旭
推荐标准
GB 1895-2004 食品添加剂 硫酸铝钾
GB/T 8190.4-1999 往复式内燃机 排放测量 第4部分:不同用途发动机的试验循环
GB/T 6178-1986 1型六角开槽螺母 A和B级
GB/T 18144-2008 玻璃应力测试方法
GB/T 43084.2-2023 塑料 含氟聚合物分散体、模塑和挤出材料 第2部分:试样制备和性能测定
GB/T 29265.403-2017 信息技术 信息设备资源共享协同服务 第403部分:远程音视频访问框架
GB/T 1227-2002 精密压力表
GB/T 38056-2019 液体硫磺中硫化氢和多硫化氢的测定 傅里叶变换红外光谱法
GB/T 42009-2022 滤波器用高压交流断路器
GB/T 9065.3-2020 液压传动连接 软管接头 第3部分:法兰式
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