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标准概要
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 峨嵋半导体材料厂 。 主要起草人 江莉 、杨旭 。 GB/T 1553-1997 (全部代替) GB/T 1553-2009 废止 GB/T 1553-2023 (全部代替)
基础信息
标准号
GB/T 1553-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
全部代替标准
GB/T 1553-1997
标准号
GB/T 1553-2009
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
废止日期
2024-03-01
全部代替标准
GB/T 1553-1997
起草单位
峨嵋半导体材料厂
起草人
江莉
杨旭
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本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台,本内容目的仅在于分享交流与学习。
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