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  标准概要

硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
国家标准《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 南京国盛电子有限公司 、宁波立立电子股份有限公司 。 主要起草人 马林宝 、骆红 、刘培东 、谭卫东 、吕立平 。 GB/T 6617-1995 (全部代替) GB/T 6617-2009 现行
  基础信息
标准号 GB/T 6617-2009
发布日期 2009-10-30
实施日期 2010-06-01
全部代替标准 GB/T 6617-1995
标准号 GB/T 6617-2009
发布日期 2009-10-30
实施日期 2010-06-01
全部代替标准 GB/T 6617-1995
  起草单位
  南京国盛电子有限公司
  宁波立立电子股份有限公司
  起草人
  马林宝
  骆红
  吕立平
  刘培东
  谭卫东
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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