硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

国家标准《硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。 主要起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心 、中国电子科技集团公司第四十六研究所 。 主要起草人 李静 、何秀坤 、蔺娴 。 GB/T 24574-2009 现行 本标准修改采用其他国际标准：SEMI MF1389-0704。 采标中文名称:Ⅲ－Ⅴ号混杂物中对单晶体硅的光致发光分析的测试方法。