标准概要

硅抛光片表面质量目测检验方法

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

国家标准《硅抛光片表面质量目测检验方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位上海合晶硅材料有限公司。主要起草人徐新华、王珍。 GB/T 6624-1995 （全部代替） GB/T 6624-2009 现行

基础信息

标准号 GB/T 6624-2009

发布日期 2009-10-30

实施日期 2010-06-01

全部代替标准 GB/T 6624-1995

标准号 GB/T 6624-2009

发布日期 2009-10-30

实施日期 2010-06-01

全部代替标准 GB/T 6624-1995

起草单位

上海合晶硅材料有限公司

起草人

徐新华

王珍

推荐标准

GB 12021.5-1989 电熨斗电耗限定值及测试方法

GB 18802.1-2002 低压配电系统的电涌保护器（SPD）第1部分:性能要求和试验方法

GB/T 19671-2005 机械安全双手操纵装置功能状况及设计原则

GB/T 41136-2021 电阻焊设备变压器一体式焊钳用内置整流器的1000Hz变压器

GB 10493-1989 铁路站内道口信号设备技术条件

GB/T 2951.4-1997 电缆绝缘和护套材料通用试验方法第1部分:通用试验方法第4部分:低温试验

GB/T 895.2-1986 轴用钢丝挡圈

GB/T 13667.1-2003 钢制书架通用技术条件

GB/T 2883-2002 工程机械轮辋规格系列

GB/Z 18333.1-2001 电动道路车辆用锂离子蓄电池

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

团体心理辅导的特点和要求是什么

养殖场标准是多少

团体标准与企业标准

团体标准简介

团体标准良好行为评价

医疗器械团体标准

做团体标准大概多少费用

团体标准好申请吗

团体标准采信

山西省团体标准