标准概要

工业硅化学分析方法第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Chemical analysis of slion metal - Part 5: Determination of elements content - Analysis using an X-ray fluorescence method

国家标准《工业硅化学分析方法第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。主要起草单位中国铝业股份有限公司山东分公司、山东南山铝业股份有限公司、中国铝业股份有限公司连城分公司。主要起草人尚爱平、郑全丽、宗丽华、王玉琴、王振才、臧凤美等。 GB/T 14849.5-2010 废止 GB/T 14849.5-2014 （全部代替）

基础信息

标准号 GB/T 14849.5-2010

发布日期 2011-01-14

实施日期 2011-11-01

废止日期 2015-05-01

标准号 GB/T 14849.5-2010

发布日期 2011-01-14

实施日期 2011-11-01

废止日期 2015-05-01

起草单位

中国铝业股份有限公司山东分公司

中国铝业股份有限公司连城分公司

山东南山铝业股份有限公司

起草人

尚爱平

郑全丽

王振才

臧凤美

宗丽华

王玉琴

推荐标准

GB/T 17415.2-1998 钽矿石、铌矿石化学分析方法硅胶富集分离-硫氰酸盐萃取光度法测定铌量

GB/T 3780.12-1995 炭黑杂质的检查

GB/T 41963-2022 废弃车用化学品分类与收集技术要求

GB/T 41551-2022 片猪肉激光灼刻标识码、印应用规范

GB/T 37719.4-2024 粮油储藏储粮害虫检验辅助图谱第4部分：蛀食性害虫（象甲科、豆象科、长蠹科、长角象科、麦蛾科）

GB/T 26852-2011 CAx系统中机电和电气应用之间的互操作要求

GB/T 16608.1-2023 有质量评定的电信用基础机电继电器第1部分：总规范与空白详细规范

GB/T 3435-1987 半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种

GB/T 37866-2019 绿色产品评价塑料制品

GB/T 6060.4-1988 表面粗糙度比较样块抛光加工表面

申明

本内容来源于国家标准化管理委员会及相关官方平台，本内容目的仅在于分享交流与学习。

关键词标签

工业硅化学分析方法 第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法

工业硅化学分析方法第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法