标准概要

锗单晶电阻率直流四探针测量方法

Germanium monocrystal-measurement of resistivity-DC linear four-point probe

国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位南京中锗科技股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司。主要起草人张莉萍、焦欣文、王学武、普世坤。 GB/T 26074-2010 现行

基础信息

标准号 GB/T 26074-2010

发布日期 2011-01-10

实施日期 2011-10-01

标准号 GB/T 26074-2010

发布日期 2011-01-10

实施日期 2011-10-01

起草单位

南京中锗科技股份有限公司

云南临沧鑫圆锗业股份有限公司

北京国晶辉红外光学科技有限公司

起草人

张莉萍

焦欣文

王学武

普世坤

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申明

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