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集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

Integrated circuit TSV 3D package reliability test methods guideline
国家标准《集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、电子科技大学 、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 、工业和信息化部电子第五研究所 、中国科学院微电子研究所 、中国科学院半导体研究所 。 主要起草人 李锟 、彭博 、肖克来提 、吴道伟 、周斌 、高见头 、李文昌 。 GB/Z 43510-2023 现行
  基础信息
标准号 GB/Z 43510-2023
发布日期 2023-12-28
实施日期 2024-04-01
标准号 GB/Z 43510-2023
发布日期 2023-12-28
实施日期 2024-04-01
  起草单位
  中国电子技术标准化研究院
  华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
  工业和信息化部电子第五研究所
  中国科学院半导体研究所
  电子科技大学
  中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  中国科学院微电子研究所
  起草人
  李锟
  彭博
  周斌
  高见头
  肖克来提
  吴道伟
  李文昌
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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