标准概要

微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy

国家标准《微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京科技大学。主要起草人权茂华、柳得橹。 GB/T 43610-2023 现行本标准修改采用ISO国际标准：ISO 19214:2017。采标中文名称:微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法。

基础信息

标准号 GB/T 43610-2023

发布日期 2023-12-28

实施日期 2024-07-01

标准号 GB/T 43610-2023

发布日期 2023-12-28

实施日期 2024-07-01

起草单位

北京科技大学

起草人

权茂华

柳得橹

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申明

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