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  标准概要

带电粒子半导体探测器测量方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors
国家标准《带电粒子半导体探测器测量方法》 由TC30(全国核仪器仪表标准化技术委员会)归口,TC30SC1(全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中核(北京)核仪器厂 。 主要起草人 李志勇 、王军 。 GB/T 5201-1994 (全部代替) GB/T 5201-2012 现行 本标准非等效采用IEC国际标准:IEC 60333:1993。 采标中文名称:核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序。
  基础信息
标准号 GB/T 5201-2012
发布日期 2012-06-29
实施日期 2012-11-01
全部代替标准 GB/T 5201-1994
标准号 GB/T 5201-2012
发布日期 2012-06-29
实施日期 2012-11-01
全部代替标准 GB/T 5201-1994
  起草单位
  中核(北京)核仪器厂
  起草人
  李志勇
  王军
  推荐标准
  申明
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