标准概要

带电粒子半导体探测器测量方法

Test procedures for semiconductor charged particle detectors

国家标准《带电粒子半导体探测器测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，TC30SC1（全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会）执行，主管部门为国家标准委。主要起草单位中核（北京）核仪器厂。主要起草人李志勇、王军。 GB/T 5201-1994 （全部代替） GB/T 5201-2012 现行本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 60333:1993。采标中文名称:核仪器半导体带电粒子探测器试验程序。

基础信息

标准号 GB/T 5201-2012

发布日期 2012-06-29

实施日期 2012-11-01

全部代替标准 GB/T 5201-1994

标准号 GB/T 5201-2012

发布日期 2012-06-29

实施日期 2012-11-01

全部代替标准 GB/T 5201-1994

起草单位

中核（北京）核仪器厂

起草人

李志勇

王军

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申明

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