标准概要

半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检

Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。主要起草人陈海蓉、李丽霞、崔波。 GB/T 4937.3-2012 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-3:2002。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第3部分:外部目检。

基础信息

标准号 GB/T 4937.3-2012

发布日期 2012-11-05

实施日期 2013-02-15

标准号 GB/T 4937.3-2012

发布日期 2012-11-05

实施日期 2013-02-15

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

陈海蓉

李丽霞

崔波

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申明

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