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  标准概要

半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 。 主要起草人 李丽霞 、陈海蓉 、崔波 。 GB/T 4937.4-2012 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-4:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.4-2012
发布日期 2012-11-05
实施日期 2013-02-15
标准号 GB/T 4937.4-2012
发布日期 2012-11-05
实施日期 2013-02-15
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  起草人
  李丽霞
  陈海蓉
  崔波
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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