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  标准概要

用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 信息产业部专用材料质量监督检验中心 、中国电子科技集团公司第四十六研究所 、中国电子技术标准化研究院 。 主要起草人 何秀坤 、董颜辉 、周智慧 、段曙光等 。 GB/T 14863-1993 (全部代替) GB/T 14863-2013 废止
  基础信息
标准号 GB/T 14863-2013
发布日期 2013-12-31
实施日期 2014-08-15
废止日期 2017-12-15
全部代替标准 GB/T 14863-1993
标准号 GB/T 14863-2013
发布日期 2013-12-31
实施日期 2014-08-15
废止日期 2017-12-15
全部代替标准 GB/T 14863-1993
  起草单位
  信息产业部专用材料质量监督检验中心
  中国电子技术标准化研究院
  中国电子科技集团公司第四十六研究所
  起草人
  何秀坤
  董颜辉
  周智慧
  段曙光
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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