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太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
国家标准《太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 中国有色金属工业标准计量质量研究所 、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司 、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 、有研半导体材料股份有限公司 、特变电工新疆新能源股份有限公司 、洛阳鸿泰半导体有限公司 、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 。 主要起草人 徐自亮 、任皓 、陈佳洵 、李锐 、孙燕 、熊金杰等 。 GB/T 30860-2014 现行
  基础信息
标准号 GB/T 30860-2014
发布日期 2014-07-24
实施日期 2015-04-01
标准号 GB/T 30860-2014
发布日期 2014-07-24
实施日期 2015-04-01
  起草单位
  中国有色金属工业标准计量质量研究所
  江苏协鑫硅材料科技发展有限公司
  特变电工新疆新能源股份有限公司
  连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
  瑟米莱伯贸易(上海)有限公司
  有研半导体材料股份有限公司
  洛阳鸿泰半导体有限公司
  起草人
  徐自亮
  任皓
  孙燕
  熊金杰
  陈佳洵
  李锐
  推荐标准
  申明
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