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太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
国家标准《太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司 、有研半导体材料股份有限公司 、乐山新天源太阳能科技有限公司 、青洋电子材料有限公司 。 主要起草人 何紫军 、冯地直 、程宇 、黎阳 、陈琳 、荆旭华 、刘卓 。 GB/T 30869-2014 现行
  基础信息
标准号 GB/T 30869-2014
发布日期 2014-07-24
实施日期 2015-02-01
标准号 GB/T 30869-2014
发布日期 2014-07-24
实施日期 2015-02-01
  起草单位
  东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司
  乐山新天源太阳能科技有限公司
  有研半导体材料股份有限公司
  青洋电子材料有限公司
  起草人
  何紫军
  冯地直
  陈琳
  荆旭华
  程宇
  黎阳
  刘卓
  推荐标准
  申明
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