标准概要

太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell

国家标准《太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司。主要起草人何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓。 GB/T 30869-2014 现行

基础信息

标准号 GB/T 30869-2014

发布日期 2014-07-24

实施日期 2015-02-01

标准号 GB/T 30869-2014

发布日期 2014-07-24

实施日期 2015-02-01

起草单位

东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司

乐山新天源太阳能科技有限公司

有研半导体材料股份有限公司

青洋电子材料有限公司

起草人

何紫军

冯地直

陈琳

荆旭华

程宇

黎阳

刘卓

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申明

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