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工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4:Determination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
国家标准《工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》 由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口,TC243SC1(全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会)执行 ,主管部门为中国有色金属工业协会。 主要起草单位 昆明冶金研究院 、中国铝业股份有限公司郑州研究院 、昆明冶研新材料股份有限公司 、云南出入境检验检疫局技术中心等 。 主要起草人 刘维理 、王劲榕 、李跃平 、赵德平 、杨毅等 。 GB/T 14849.4-2008 (全部代替) GB/T 14849.4-2014 现行
  基础信息
标准号 GB/T 14849.4-2014
发布日期 2014-12-05
实施日期 2015-08-01
全部代替标准 GB/T 14849.4-2008
标准号 GB/T 14849.4-2014
发布日期 2014-12-05
实施日期 2015-08-01
全部代替标准 GB/T 14849.4-2008
  起草单位
  昆明冶金研究院
  昆明冶研新材料股份有限公司
  中国铝业股份有限公司郑州研究院
  云南出入境检验检疫局技术中心等
  起草人
  刘维理
  王劲榕
  杨毅
  李跃平
  赵德平
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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