标准概要

多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法

Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

国家标准《多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法》由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所。主要起草人卓尚军、钱荣、董疆丽、申如香、盛成、高捷、郑文平。 GB/T 33236-2016 现行

基础信息

标准号 GB/T 33236-2016

发布日期 2016-12-13

实施日期 2017-11-01

标准号 GB/T 33236-2016

发布日期 2016-12-13

实施日期 2017-11-01

起草单位

中国科学院上海硅酸盐研究所

起草人

卓尚军

钱荣

盛成

高捷

董疆丽

申如香

郑文平

推荐标准

申明

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关键词标签

多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法