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微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
国家标准《微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 北京科技大学 。 主要起草人 柳得橹 、郜欣 、权茂华 。 GB/T 34002-2017 现行 本标准等同采用ISO国际标准:ISO 29301:2010。 采标中文名称:微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法。
  基础信息
标准号 GB/T 34002-2017
发布日期 2017-07-12
实施日期 2018-06-01
标准号 GB/T 34002-2017
发布日期 2017-07-12
实施日期 2018-06-01
  起草单位
  北京科技大学
  起草人
  柳得橹
  郜欣
  权茂华
  推荐标准
  申明
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