标准概要

微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

国家标准《微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京科技大学。主要起草人柳得橹、郜欣、权茂华。 GB/T 34002-2017 现行本标准等同采用ISO国际标准：ISO 29301:2010。采标中文名称:微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法。

基础信息

标准号 GB/T 34002-2017

发布日期 2017-07-12

实施日期 2018-06-01

标准号 GB/T 34002-2017

发布日期 2017-07-12

实施日期 2018-06-01

起草单位

北京科技大学