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硅片字母数字标志规范

Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
国家标准《硅片字母数字标志规范》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 主要起草单位 有研半导体材料有限公司 、浙江省硅材料质量检验中心 。 主要起草人 张静 、孙燕 、边永智 、楼春兰 。 GB/T 34479-2017 现行
  基础信息
标准号 GB/T 34479-2017
发布日期 2017-10-14
实施日期 2018-07-01
标准号 GB/T 34479-2017
发布日期 2017-10-14
实施日期 2018-07-01
  起草单位
  有研半导体材料有限公司
  浙江省硅材料质量检验中心
  起草人
  张静
  孙燕
  边永智
  楼春兰
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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