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  标准概要

纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》 由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 主要起草单位 苏州纳微科技有限公司 、苏州市计量测试院 、苏州大学 、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 、中国检验检疫科学研究院 、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 。 主要起草人 郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。 GB/T 44075-2024 现行
  基础信息
标准号 GB/T 44075-2024
发布日期 2024-05-28
实施日期 2024-12-01
标准号 GB/T 44075-2024
发布日期 2024-05-28
实施日期 2024-12-01
  起草单位
  苏州纳微科技有限公司
  苏州大学
  中国检验检疫科学研究院
  苏州市计量测试院
  中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
  江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
  起草人
  郭清华
  朱建荣
  方丹
  姜江
  王震
  姚建林
  袁亚仙
  席广成
  卢荻
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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