标准概要

半导体集成电路模拟开关测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

国家标准《半导体集成电路模拟开关测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子股份有限公司、西北工业大学。主要起草人张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东。 GB/T 14028-1992 （全部代替） GB/T 14028-2018 现行

基础信息

标准号 GB/T 14028-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

全部代替标准 GB/T 14028-1992

标准号 GB/T 14028-2018

发布日期 2018-03-15

实施日期 2018-08-01

全部代替标准 GB/T 14028-1992

起草单位

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所

西北工业大学

圣邦微电子股份有限公司

起草人

张冰

李雷

朱华

黄德东

陈志培

闫辉

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申明

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