电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻

国家标准《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》 由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。 主要起草单位 电子科技大学 、清华大学 、南京大学 、中国科学院物理研究所 。 主要起草人 曾成 、罗正祥 、补世荣 、魏斌 、吉争鸣 、孙亮 。 GB/T 22586-2008 （全部代替） GB/T 22586-2018 现行 本标准修改采用IEC国际标准：IEC 61788-7:2006。 采标中文名称:超导电性 第7部分：电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻。