半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法

国家标准《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、西安紫光国芯半导体有限公司 、上海高性能集成电路设计中心 、武汉芯动科技有限公司 、成都华微电子科技有限公司 。 主要起草人 孔宪伟 、殷梦迪 、尹萍 、巨鹏锦 、高专 、刘建明 。 GB/T 36474-2018 现行