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半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、北京大学微电子研究院 、无锡必创传感科技有限公司 。 主要起草人 张艳杰 、彭浩 、李树杰 、岳振鹏 、崔波 、高金环 、裴选 、张天福 、迟雷 、张威 、陈得民 、周刚 。 GB/T 4937.13-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-13:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.13-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
标准号 GB/T 4937.13-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  无锡必创传感科技有限公司
  北京大学微电子研究院
  起草人
  张艳杰
  彭浩
  崔波
  高金环
  迟雷
  张威
  李树杰
  岳振鹏
  裴选
  张天福
  陈得民
  周刚
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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