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  标准概要

半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国科学院新疆理化技术研究所 、西北核技术研究所 。 主要起草人 席善斌 、彭浩 、郭旗 、陆妩 、陈伟 、林东生 、何宝平 、金晓明 、崔波 、陈海蓉 。 GB/T 4937.18-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-18:2002。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)。
  基础信息
  起草单位
  标准号
  GB/T 4937.18-2018
  发布日期
  2018-09-17
  实施日期
  2019-01-01
  标准类别
  方法
  中国标准分类号
  L40
  国际标准分类号
  31.080.01 31 电子学 31.080 半导体分立器件 31.080.01 半导体分立器件综合
  归口单位
  全国半导体器件标准化技术委员会
  执行单位
  全国半导体器件标准化技术委员会
  主管部门
  工业和信息化部(电子)
  起草人
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  西北核技术研究所
  中国科学院新疆理化技术研究所
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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