标准概要

半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。主要起草人迟雷、彭浩、岳振鹏、李树杰、崔波、高金环、裴选、张艳杰。 GB/T 4937.12-2018 现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-12:2002。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第12部分:扫频振动。

基础信息

标准号 GB/T 4937.12-2018

发布日期 2018-09-17

实施日期 2019-01-01

标准号 GB/T 4937.12-2018

发布日期 2018-09-17

实施日期 2019-01-01

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

迟雷

彭浩

崔波

高金环

岳振鹏

李树杰

裴选

张艳杰

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申明

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