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半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、深圳市标准技术研究院 。 主要起草人 高金环 、彭浩 、高瑞鑫 、沈彤茜 、裴选 、刘玮 。 GB/T 4937.20-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-20:2008。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.20-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
标准号 GB/T 4937.20-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  深圳市标准技术研究院
  起草人
  高金环
  彭浩
  裴选
  刘玮
  高瑞鑫
  沈彤茜
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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