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  标准概要

半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminations(lead integrity)
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引出端强度(引线牢固性)》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、北京大学微电子研究院 、无锡必创传感科技有限公司 。 主要起草人 裴选 、高金环 、彭浩 、宋玉玺 、柳华光 、崔波 、张威 、陈得民 、周刚 。 GB/T 4937.14-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60749-14:2003。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分:引线牢固性(引线牢固性)。
  基础信息
标准号 GB/T 4937.14-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
标准号 GB/T 4937.14-2018
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-01-01
  起草单位
  中国电子科技集团公司第十三研究所
  无锡必创传感科技有限公司
  北京大学微电子研究院
  起草人
  裴选
  高金环
  柳华光
  崔波
  周刚
  彭浩
  宋玉玺
  张威
  陈得民
  推荐标准
  申明
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  关键词标签
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