半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 主要起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 、西北核技术研究所 、中国科学院新疆理化技术研究所 。 主要起草人 席善斌 、彭浩 、陈伟 、林东生 、杨善潮 、金晓明 、郭旗 、陆妩 、崔波 、陈海蓉 。 GB/T 4937.17-2018 现行 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-17:2003。 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照。